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探秘承裝修試電力設(shè)施施工機(jī)具：創(chuàng)新驅(qū)動電力建設(shè)
雷電計(jì)數(shù)器動作測試儀的工作頻率有什么要求
交流氧化鋅避雷器帶電測試儀的使用頻率有多久
如何精準(zhǔn)校準(zhǔn)氧化鋅避雷器諧波分析儀？
氧化鋅避雷器直流參數(shù)測試儀的校準(zhǔn)方法與實(shí)踐
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產(chǎn)品展示 Products
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號 | 產(chǎn)品描述 |
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產(chǎn)品描述：隨著CVT（電容式電壓互感器）技術(shù)的不斷成熟，CVT得到不斷的推廣。采用傳統(tǒng)的方式對CVT進(jìn)行校驗(yàn)，由于CVT的主電容量比較大，一般為0.005~0.02霧，因此，對試驗(yàn)電源的容量要求就很高，通常為幾十上百千伏安甚至幾百千伏安，現(xiàn)場往往難得找到這么大容量的電源，而且，這么大容量的電源重量為好幾百公斤甚至好幾噸，不易于搬動，不易于現(xiàn)場試驗(yàn)。因此，我們采用了串聯(lián)諧振的原理，采用了無極手動調(diào)感 -
產(chǎn)品描述：DBXZ系列發(fā)電機(jī)變頻串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置適用于火力、水力發(fā)電機(jī)的交流耐壓試驗(yàn) ,發(fā)電機(jī)變頻串聯(lián)諧振試驗(yàn)裝置既可以采用調(diào)整電抗器電感量的方式達(dá)到諧振狀態(tài)，也可以采用調(diào)整系統(tǒng)工作頻率的方式達(dá)到諧振狀態(tài)，還可以同時采用上述兩種方式達(dá)到諧振狀態(tài)。當(dāng)需要什么頻率做試驗(yàn)時，就將激勵源的頻率調(diào)整到需要的頻率，然后根據(jù)被試品的電容量調(diào)節(jié)電抗器的感抗，使系統(tǒng)諧振，產(chǎn)生高壓，在升壓過程中，如果諧振點(diǎn)偏離， -
產(chǎn)品描述：適用于6kV-500kV高壓交聯(lián)電纜、各種發(fā)電機(jī)、10-500kV開關(guān)柜、GIS和SF6開關(guān)及其它電力高壓設(shè)備如母線，套管，互感器的交流耐壓試驗(yàn)，可用于6kV-500kV變壓器的工頻耐壓試驗(yàn)，該成套設(shè)備由變頻電源、勵磁變壓器、電抗器、分壓器組成。 參考標(biāo)準(zhǔn)：DL/T849.6-2004 -
產(chǎn)品描述：DBXZ系列變頻串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置采用了調(diào)節(jié)電源的頻率的方式使得電抗器與被試電容器實(shí)現(xiàn)諧振，在被試品上獲得高電壓大電流，是當(dāng)前高電壓試驗(yàn)的一種新的方法和潮流，在國內(nèi)外已經(jīng)得到廣泛的應(yīng)用。 DBXZ系列變頻串聯(lián)諧振耐壓試驗(yàn)裝置采用了的SPWM數(shù)字式波形發(fā)生芯片，頻率分辨率16位，在20~300Hz時頻率細(xì)度可達(dá)0.1Hz；采用了正交非同步固定式載波調(diào)制方式，確保在整個頻率區(qū)間內(nèi)輸出波 -
產(chǎn)品描述：DBYD3000全自動工頻耐壓試驗(yàn)裝置是根據(jù)國家行業(yè)試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的試驗(yàn)設(shè)備，其安全可靠、功能強(qiáng)大、使用方便、維護(hù)簡單，主要用于對各種電器產(chǎn)品、電氣元件、絕緣材料等進(jìn)行規(guī)定電壓下的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)，以考核產(chǎn)品的絕緣水平，發(fā)現(xiàn)被試品的絕緣缺陷，衡量過電壓的能力，是電力運(yùn)行相關(guān)部門、電工電器制造企業(yè)、冶金、煤礦、電氣化鐵路相關(guān)部門、科研單位及高等院校等需要耐壓試驗(yàn)設(shè)備的產(chǎn)品。 -
產(chǎn)品描述：DBYD系列耐壓試驗(yàn)裝置是鑒定電力設(shè)備絕緣強(qiáng)度的Z嚴(yán)格、Z有效和Z直接的方法。它能檢查出那些危險(xiǎn)性較大的集中缺陷，對判斷電力設(shè)備能否繼續(xù)參加運(yùn)行具有決定性作用，是保證設(shè)備絕緣水平、避免發(fā)生絕緣事故的重要手段。 本裝置是根據(jù)國家電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的、性能*的耐壓試驗(yàn)設(shè)備，用于對各種電器產(chǎn)品、電氣元件、絕緣材料等進(jìn)行規(guī)定電壓下的絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)，以考核產(chǎn)品的絕緣水平，發(fā)現(xiàn)被試品的絕緣缺陷，